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恒星干涉仪 : 利用相位相关干涉或强度干涉方法测量恒星角直径和双星角距离的一种装置。它具有极高的分辨本领。1920年,迈克耳孙最先设计了一架恒星干涉仪,能测量到0奬02的角度。如图所示，恒星的光被平面镜B、B、A、A反射到望远镜里；若恒星是点光源，在望远镜焦平面P上，星像是B镜圆孔衍射和双光束干涉迭加的图样。对于双星则应有两组图样。调节距离D,当两组干涉条纹互相抵消时，双星的角距就等于λ/2D,λ是星光的有效波长。对于角直径为β的恒星圆面，当条纹消失时,β＝1,22λ/D。这种干涉仪叫作相位相关干涉仪。后来制成另一种恒星干涉仪，叫作强度干涉仪。它用两架距离 200米的大口径组合光学望远镜代替上述两块 B镜，用光电倍增管接受星光。光电倍增管接受到的信号强度是相关的。改变两架望远镜间的距离，可把观测的结果归算为恒星的角大小。这种仪器的分辨角小到0奬0004。由于需要大量的光子才能获得有意义的相关性，所以,即使采用口径大到6米的望远镜，也仅能观测亮于2等的恒星。
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